x射線(xiàn)熒光光譜儀的原理簡(jiǎn)述了解一下呢

熒光光譜儀又稱(chēng)熒光分光光度計(jì)，是一種定性、定量分析的儀器。通過(guò)熒光光譜儀的檢測(cè)，可以獲得物質(zhì)的激發(fā)光譜、發(fā)射光譜、量子產(chǎn)率、熒光強(qiáng)度、熒光壽命、斯托克斯位移、熒光偏振與去偏振特性，以及熒光的淬滅方面的信息。

 波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線(xiàn)，根據(jù)Bragg定律，通過(guò)測(cè)定角度，即可獲得待測(cè)元素的譜線(xiàn)波長(zhǎng)：

         nλ=2dsinaθ  (n=1,2,3…)

公式中 ，λ為分析譜線(xiàn)波長(zhǎng)；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線(xiàn)的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長(zhǎng)，從而獲得待測(cè)元素的特征信息。

能量色散射線(xiàn)熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器，通過(guò)測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量，直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線(xiàn)能量： 

                            Q=kE

式中，K為入射射線(xiàn)的光子能量；Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；k為不同類(lèi)型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線(xiàn)能量成正比，故通過(guò)測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特征信息。

待測(cè)元素的特征譜線(xiàn)需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線(xiàn)光管和同位素激發(fā)源等。